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三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量係統

簡要描述：三豐(feng) Mitutoyo影像儀(yi) 非接觸 3D 測量係統 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光幹涉儀(yi) 的複合型高精度 3D 測量係統。
● 可根據 WLI 光學係統獲取的 3D 數據進行三維表麵形狀分析 / 三維粗糙度分析。
還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截麵形狀測量。

產品型號：Hyper QVWLI
廠商性質：代理商
更新時間：2024-11-26
訪問量：2417

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詳細介紹

品牌	MITUTOYO/日本三豐	價格區間	10萬-50萬
產地類別	進口	應用領域	能源,電子/電池,汽車及零部件

三豐(feng) Mitutoyo影像儀(yi) 非接觸 3D 測量係統 Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光幹涉儀(yi) 的複合型高精度 3D 測量係統。

● 可根據 WLI 光學係統獲取的 3D 數據進行三維表麵形狀分析 / 三維粗糙度分析。還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截麵形狀測量。

三豐(feng) Mitutoyo影像儀(yi) 非接觸 3D 測量係統 Hyper QVWLI

規格

型號項目		Hyper QVWLI 302	Hyper QVWLI 404	Hyper QVWLI 606
測量範圍 ( X × Y × Z )	影像測量	300 × 200 × 190 mm	400 × 400 × 240 mm	600 × 650 × 220 mm
	WLI 測量 * 1	215 × 200 × 190 mm	315 × 400 × 240 mm	515 × 650 × 220 mm
WLI 光學測頭裝置
視場 ( H × V )		5X 鏡頭 : 約 0.64 × 0.48 mm/10X 鏡頭 : 約 0.32 × 0.24 mm/ 25X 鏡頭 : 約 0.13 × 0.10 mm/50X 鏡頭 : 約 0.064 × 0.048 mm
Z 軸重複性		2 σ≤ 0.08 µm
影像光學測頭裝置
觀察裝置		程控電動轉塔 1X-2X-6X
圖像傳感器		B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像測量精度 * 2	E 1X /E 1Y	( 0.8+2L/1000 ) µm
	E 1Z	( 1.5+2L/1000 ) µm
	E 2XY	( 1.4+3L/1000 ) µm

*1 WLI 光學測頭的可移動範圍。

*2: 按照本公司檢查方法。 L 為(wei) 任意 2 點間的尺寸 ( mm ) 。

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