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品牌 | MITUTOYO/日本三豐 | 價格區間 | 麵議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池 |
Mitutoyo日本三豐(feng) 光學鏡頭顯微鏡單元介紹
Mitutoyo日本三豐(feng) 光學鏡頭顯微鏡單元
視頻顯微鏡單元 VMU特點
·緊湊、輕巧的相機觀察專(zhuan) 用顯微鏡。
適用於(yu) 金屬、樹脂、印刷表麵、微小運動物體(ti) 等各種觀察對象。
·適用於(yu) 使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工。※
※不保證激光振蕩器配備係統的綜合性能和安全性。
半導體(ti) 電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修複(修正缺陷)等。
·適用於(yu) 紅外光學係統。※
※另需紅外光源和紅外攝像機等。
矽類的內(nei) 部觀察、紅外光譜特征分析等。
大視場視頻顯微鏡單元 WIDE VMU特點
·高密度配置多個(ge) 單元,可以對大範圍進行集中檢查。
·除了通常的明視場觀察外,還適合用於(yu) 外觀檢查和劃痕檢查的暗視場觀察,以及具有偏光特性的觀察對象的偏光觀察。
精密顯微鏡單元 FS70特點
·帶目鏡觀察部的小巧顯微鏡單元。
適用於(yu) 金屬表麵和半導體(ti) 、液晶、樹脂等各種觀察對象。
·適用於(yu) 使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工。※
※不保證激光係統產(chan) 品的性能和安全性。
半導體(ti) 電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修複(修正缺陷)等。並適合作為(wei) 半導體(ti) 故障分析用探針台的光學觀察部分。
·適用於(yu) 紅外光學係統。※
※另需紅外光源和紅外攝像機等。
矽類的內(nei) 部觀察、紅外光譜特征分析等。
明視場用物鏡M Plan Apo / M Plan Apo HR特點
·無限遠校正
·明視場觀察用
·長工作距離
·平場複消色差規格
明視場用近紅外區校正 物鏡M Plan Apo NIR /M Plan Apo NIR HR特點
·無限遠校正
·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離
·平場複消色差規格
·對可見區(常用觀察波長區)到近紅外區(波長~1800nm)進行了校正設計。
明視場用紫外區校正 物鏡M Plan UV特點
·無限遠校正
·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離
·對紫外區(波長266nm)和可見區(常用觀察波長區)進行了校正設計。
·重點保證了紫外區的高透射率。
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