表麵粗糙度測量裝置錯誤與缺點
更新時間：2018-09-26 點擊次數：2428
表麵粗糙度測量裝置錯誤與缺點
表麵粗糙度測量裝置粗糙度參數基於粗糙度輪廓來評估，粗糙度輪廓是通過使用輪廓濾波器來抑製原始輪廓的長波分量而獲得的。它是偏離平均線的輪廓的算術平均值，並以采樣長度定義。
影響濾波數據的因素如下：
1、采樣長度和評估長度的選擇：采樣長度用於確定具有表麵粗糙度特征的參考線的長度。評估的長度是評估粗糙度時必須采用的函數。
反映加工表麵粗糙度的小長度。
2、濾波器的高通和低通采樣長度和帶寬比的選擇對測量結果也有非常重要的影響。采樣波長是測量表麵形貌時儀器響應的表麵特征（表麵波長）之間的長距離，表麵粗糙度測量裝置其範圍通常為0.08mm~8mm。
主要缺點如下：
1）測量參數較少，一般隻能測量少量參數如Ra，Rz，Ry;
2）測量精度較低，測量範圍小，Ra值範圍一般在0.02~10 m左右;
3）測量方法不靈活，如選擇評估長度，濾波器選擇;
4）測量參數;數據處理速度慢，輸出不直觀。
表麵粗糙度測量裝置造成這些缺點的主要原因是：係統可靠性不高，模擬信號誤差大，處理不方便，計算機數據處理能力弱，算法不夠簡單有效。
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