表麵粗糙度儀的相關參數

      隨著工業(ye) 的發展和對外開放與(yu) 技術合作的需要，中國對表麵粗糙度的研究和標準化愈來愈被科技和工業(ye) 界所重視， 為(wei) 迅速改變國內(nei) 表麵粗糙度方麵的術語和概念不統一的局麵，並達到與(yu) 統一的作用，中國等效采用標準化組織（ISO）有關(guan) 的標準製訂了GB3505-1983《表麵粗糙度術語表麵及其參數》。GB3505專(zhuan) 門對有關(guan) 表麵粗糙度的表麵及其參數等術語作了規定，其中有三個(ge) 部分共27個(ge) 參數術語：

a. 與(yu) 微觀不平度高度特性有關(guan) 的表麵粗糙度參數術語。其中定義(yi) 的常用術語為(wei) ：輪廓算術平均偏差Ra、 輪廓均方根偏差Rq、輪廓高度_maxRy和微觀不平度十點高度Rz等11個(ge) 參數。

b. 與(yu) 微觀不平度間距特性有關(guan) 的表麵粗糙度參數術語。其中有輪廓微觀不平度的平均間距Sm、輪廓峰密度D、輪廓均方根波長lq以及輪廓的單峰平均間距S等共9個(ge) 參數。

c. 與(yu) 微觀不平度形狀特性有關(guan) 的表麵粗糙度參數術語。這其中有輪廓偏斜度Sk、 輪廓均方根斜率Dq和輪廓支承長度率tp等共5個(ge) 參數。

3.精密加工表麵性能評價(jia) 的內(nei) 容及其迫切性表麵粗糙度參數這一概念開始提出時就是為(wei) 了研究零件表麵和其性能之間的關(guan) 係。

4.表麵粗糙度理論的新進展。表麵形貌評定的核心在於(yu) 特征信號的無失真提取和對使用性能的量化評定，國內(nei) 外學者在這一方麵做了大量工作，提出了許多分離與(yu) 重構方法。隨著當今微機處理技術、集成電路技術、機電一體(ti) 化技術等的發展，出現了用分形法、Motif法、功能參數集法、時間序列技術分析法、擬合法、濾波法等各種評定理論與(yu) 方法，取得了顯著進展，下麵對相對而言比較成熟的分形法、 Motif法、特定功能參數集法進行介紹。表麵粗糙度儀(yi) （光潔度）的國家標準主要術語及定義(yi) 。

本資料給出的參數符合GB/T3505-2000《產(chan) 品幾何技術規範表麵結構 輪廓法 表麵結構的述語、定義(yi) 及參數》、符合GB/T6062-2002《產(chan) 品幾何量技術規範（GPS）表麵結構 輪廓法接觸（觸針）式儀(yi) 器的標稱特性》

技術術語

（1）表麵粗糙度：取樣長度L

取樣長度是用於(yu) 判斷和測量表麵粗糙度時所規定的一段基準線長度，它在輪廓總的走向上取樣。

（2）表麵粗糙度：評定長度Ln

由於(yu) 加工表麵有著不同程度的不均勻性，為(wei) 了充分合理地反映某一表麵的粗糙度特性，規定在評定時所必須的一段表麵長度，它包括一個(ge) 或數個(ge) 取樣長度，稱為(wei) 評定長度Ln。

（3）表麵粗糙度：輪廓中線（也有叫曲線平均線）M

輪廓中線M是評定表麵粗糙度數值的基準線。

評定參數

國家規定表麵粗糙度的參數由高度參數、間距參數和綜合參數組成。

表麵粗糙度高度參數共有三個(ge) ：

（1）輪廓算術平均偏差Ra ：

在取樣長度L內(nei) ，I輪廓偏距I的算術平均值。

（2）微觀不平度十點高度Rz

在取樣長度L內(nei) 輪廓峰高_max的平均值與(yu) 五個(ge) 輪廓穀深_max的平均值之和。

（3）輪廓高度_maxRy

在取樣長度內(nei) ，輪廓峰頂線和輪廓穀底線之間的距離。

表麵粗糙度間距參數共有兩(liang) 個(ge) ：

（4）輪廓單峰平均間距S

兩(liang) 相鄰輪廓單峰高點_max在中線上的投影長度Si，稱為(wei) 輪廓單峰間距，在取樣長度L內(nei) ，輪廓單峰間距的平均值，就是輪廓單峰平均間距。

（5）輪廓微觀不平度的平均間距Sm

含有一個(ge) 輪廓峰和相鄰輪廓穀的一段中線長度Smi，稱輪廓微觀不平間距。

表麵粗糙度綜合參數：

（6）輪廓支承長度率tp

輪廓支承長度率就是輪廓支承長度np與(yu) 取樣長度L之比。