表麵粗糙度測量儀(yi) 是評定零件表麵質量的。可對多種零件表麵的粗糙度進行測量,包括平麵、斜麵、外圓柱麵,內(nei) 孔表麵,深槽表麵及軸承滾道等,實現了表麵粗糙度的多功能精密測量。
分類:
表麵粗糙度的測量方法基本上可分為(wei) 接觸式測量和非接觸式測量兩(liang) 類。在接觸式測量中主要有比較法、印模法、觸針法等;非接觸測量方式中常用的有光切法、實時全息法、散斑法、像散測定法、光外差法、 AFM、光學傳(chuan) 感器法等。
觸針式表麵粗糙度測量儀(yi) 是常用、方便、 可靠的表麵粗糙度測量儀(yi) ,並且一直是各國國家標準及標準製定的依據。根據傳(chuan) 感器的不同原理,觸針式粗糙度儀(yi) 可分為(wei) 電感式、壓電式、光電式、 激光式和光柵式等,還可以分為(wei) 有導頭式和無導頭式。導頭式粗糙度儀(yi) 僅(jin) 限用於(yu) 測量表麵粗糙度,而無導頭式粗糙度儀(yi) 除可用於(yu) 測量表麵粗糙度外,還可用於(yu) 測量表麵波紋度和表麵幾何形狀。
軟件處理部分主要有兩(liang) 個(ge) 模塊,分別是數據處理模塊和文件處理模塊。在數據處理模塊中主要論述了表麵粗糙度的參數和圖形、輪廓評定基準線和數字濾波器設計的算法,然後利用定標算法、誤差分析,對表麵粗糙度測量係統做出綜合評價(jia) 。在文件處理模塊中主要介紹了對數據文件的打開、保存、打印以及圖形的處理。硬件部分則由傳(chuan) 感器、驅動器、指零表、記錄器和工作台等主要部件組成。
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