影響表麵粗糙度測量儀測量數據的因素有哪些？

　　表麵粗糙度測量儀是評定零件表麵質量的台式粗糙度儀。可對多種零件表麵的粗糙度進行測量，包括平麵、斜麵、外圓柱麵，內孔表麵，深槽表麵及軸承滾道等，實現了表麵粗糙度的多功能精密測量。表麵粗糙度的測量方法基本上可分為接觸式測量和非接觸式測量兩類。在接觸式測量中主要有比較法、印模法、觸針法等；非接觸測量方式中常用的有光切法、實時全息法、散斑法、像散測定法、光外差法、AFM、光學傳感器法等。

　　觸針式表麵粗糙度測量儀是可靠的表麵粗糙度測量儀，並且一直是各國國家標準及標準製定的依據。根據傳感器的不同原理，觸針式粗糙度儀可分為電感式、壓電式、光電式、激光式和光柵式等，還可以分為有導頭式和無導頭式。導頭式粗糙度儀僅限用於測量表麵粗糙度，而無導頭式粗糙度儀除可用於測量表麵粗糙度外，還可用於測量表麵波紋度和表麵幾何形狀。

　　評價粗糙度參數的根據是粗糙度輪廓，是對原始輪廓用一個輪廓濾波器，抑製掉長波成份而得到。是輪廓偏離平均線的算術平均，並且是在一個取樣長度內定義的。影響濾波數據的因素有：1、取樣長度和評定長度的選用:取樣長度是用於判別具有表麵粗糙度特性的一段基準線長度。評定長度是用於評定粗糙度時必須取一段能

　　反映加工表麵粗糙度特性的zui小長度。2、濾波器的高、低通取樣長度和帶寬比的選用也對測量結果有著十分重要的影響。取樣波長是表麵形貌測量時，儀器響應的表麵特性（表麵波長）的zui長間距，其範圍通常是0.08mm～8mm。